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日立推出新型X-ray膜厚量測儀FT160系列
發佈日期:2021/11/8
新推出的奈米級X-ray膜厚量測儀FT160系列,配置了聚焦光學系統(光學管)和新型矽漂移檢測器(SDD),加強樣品的照明系統,不僅操作上更加容易,擁有優異的解析能力,多款式機型可依據鍍層應用不同及樣品大小提供選擇,在量測工作上能夠提供更多的幫助。
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