共有 9 項關於 3D檢測機 的產品資訊
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3D掃描檢測機
產品型號:3D2-2824-70-M
產品分類:硬板用設備 / 硬板用檢測製程設備 / 3D檢測機
產品特色:■完整圖表分析,提供客戶多種檢測資料 ■有工程與生產兩種模式,可依不同需求彈性運用 ■配置快速有效的分析工具,縮短大量工程時間 ■線上逐孔複檢,離線檢視量測結果,大幅增加檢測效率
供應商:牧德科技股份有限公司
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雷射3D檢查機
產品型號:ST-3000
產品分類:硬板用設備 / 硬板用檢測製程設備 / 3D檢測機
產品特色:■花崗岩基座與氣浮式載台可大幅提昇精度及穩定度■非接觸性檢測,不會傷及待測件之表面■適用填孔電鍍後檢測,不需前處理
供應商:亞亞科技股份有限公司
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3D光學自動量測系統
產品型號:3D光學輪廓儀
產品分類:硬板用設備 / 硬板用檢測製程設備 / 3D檢測機
產品特色:1. Nikon最新開發的高精度、高速量測及高NA的CNC影像量測儀VMZ-R Series,不只在精度上再升級,在Z軸的量測高度上也做了提升,讓產品的量測擁有更高的多元性。 2. 新雷射系統 除原有影像對焦及雷射對焦、掃描等功能,新的雷射感應器也可量測膜的表面及底部,進而測量膜厚。 3. 創新光源設計 表面光、底部光及環型光皆採用LED的設計,光源更穩定且壽命更長。 環型光源有三種不同照射角度且八方向的設計,讓邊界的量測更加簡易。 4. 真圓度的計算,可選擇最小平方法、最小區域法、最大內接圓或最小外接圓方式計算。 5. 平面度(平坦度)的計算,可選擇最小平方法、最小區域法或最大、最小三點法
供應商:國祥貿易股份有限公司
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Mahr光學3D顯微鏡
產品型號:Mahr MarSurf CM explorer/expert/select/mobile
產品分類:硬板用設備 / 硬板用檢測製程設備 / 3D檢測機
產品特色:MarSurf CM Explorer是一款共聚焦顯微鏡,可對表面進行三維測量和分析-非接觸。 MarSurf CM Expert是一款功能強大的共聚焦顯微鏡,可對表面進行三維測量和分析-非接觸且快速;附加的手動Z定位與X和Y行程範圍可做到半自動化的可能,具有出色的易用性。 MarSurf CP select是一款功能強大的共聚焦顯微鏡,用於三維測量和分析表面-非接觸且快速。移動軸和防震系統以及軟體可以單獨選配組合。這使得測量系統可以適應不同的測量需求。 MarSurf CM mobile是一款攜帶式共聚焦顯微鏡,可對表面進行三維測量和分析-非接觸且快速。
供應商:中美科學股份有限公司
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Box-type Electrostatic Flocking Machine for lip gloss brush
產品型號:XT-F06
產品分類:硬板用設備 / 硬板用檢測製程設備 / 3D檢測機
產品特色:The machine is equipped with a time control system which uses time namely appliance to control the using time of the power.It avoids the problem of uneven density of flocking fiber due to manual control of the time. It is also equipped with external control unit (Output control voltage is 24V,It can
供應商:Hangzhou Guozhen WanXin Coating Equipment Manufacturing Co.,Ltd
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Dongxing Telecommunication?Material Co.,Ltd
產品型號:had established a mature market network
產品分類:硬板用設備 / 硬板用檢測製程設備 / 3D檢測機
產品特色:Germany, South Korea, Japan, Canada and South-east Asia. We are an appointed China supplier of Amphenol-tuchel Electronics Gmbh, a world famous Telecommunication group. Due to our reliable products quality and excellent service.
供應商:Dongxing Telecommunication?Material Co.,Ltd
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非接觸三維細微形象測量儀器
產品型號:NV-2000
產品分類:硬板用設備 / 硬板用檢測製程設備 / 3D檢測機
產品特色:我公司的非接觸三維細微形象測量儀器-NanoView Series,利用白色光線乾涉儀 (WSI;White light Scanning Interferometry),向光軸方向具備Sub-nanometer 的分解能力的同時,還可以實現非破壞測量的解決方案。在幾納米到幾百微米範圍內,可以實現細微精密、高速測量,還可以實現利用Stitching的大面積測量,所以方便地進行細微領域的樣品寬度、段差、截面與容積等測量,而且表面粗糙程度的數據也可以方便、迅速地獲取.